雙85恒溫恒濕箱

一、介紹：什么是雙85測試/雙85恒溫恒濕機(jī)/雙85恒溫恒濕箱？提到雙85試驗(yàn)，大家應(yīng)該都不陌生。其實(shí)它就是一個簡單的環(huán)境試驗(yàn)，只需要設(shè)定溫度85℃、相對濕度85%RH以及測試時間就可以了。雖然試驗(yàn)簡單，但是卻可以考核材料的很多特性指標(biāo)。

雙85試驗(yàn)是產(chǎn)品可靠性測試的一個必要測試：通過雙85測試來確認(rèn)組件能夠承受高溫高濕之后隨之的負(fù)溫度影響，以及對于溫度重復(fù)變化時引起的疲勞和熱失效，另外確定光伏組件曝露在高濕度下而產(chǎn)生的熱應(yīng)力及能夠抵抗?jié)駳忾L期滲透之能力。

雙85恒溫恒濕箱應(yīng)用得非常廣，例如電子電器行業(yè)、光伏行業(yè)、LED行業(yè)以及太陽能行業(yè)都需要進(jìn)行雙85試驗(yàn)。光伏行業(yè)中的光伏組件，包括單晶硅組件、地面用晶體硅光伏組件、地面用薄膜光伏組件等一系列光伏組件都需要做該項(xiàng)測試可以再現(xiàn)環(huán)境所產(chǎn)生的破壞性能測試。

二、雙85恒溫恒濕箱規(guī)格參數(shù)：

三、雙85恒溫恒濕箱特點(diǎn)：
1、科賽德雙85恒溫恒濕箱是采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方、新穎，并采用無反作用把手，操作簡便。
2、工作室采用鏡面板高級不銹鋼制作而成，箱體外膽采用鋼板噴塑或者選擇不銹鋼板。
3、箱體外與內(nèi)膽之間填充超細(xì)保溫棉，隔溫效果很好，有效的降低試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度波動率，再配合抗老化硅橡膠密封條的嚴(yán)實(shí)密封，使箱體無霧氣泄漏現(xiàn)象產(chǎn)生。
4、由于試驗(yàn)箱內(nèi)的環(huán)境惡劣，為觀察清晰試驗(yàn)箱內(nèi)的情況，我們在觀察窗方面是選用多層鋼化玻璃制作，并且在觀察窗設(shè)置單獨(dú)的照明燈和霧刷，保持良好的觀察視野，隨時監(jiān)控試驗(yàn)情況。
5、當(dāng)然，為采集試驗(yàn)數(shù)據(jù)，箱體專門配置了直徑50mm的測試孔，可連接記錄儀，打印機(jī)和電腦。

四、雙85恒溫恒濕箱滿足標(biāo)準(zhǔn)
GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB11158- 89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
IEC68-2-1 試驗(yàn)A
IEC68-2-2 試驗(yàn)B
IEC68-2-14 試驗(yàn)N
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
符合的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GJB150.3A－2009 高溫試驗(yàn)方法
GJB150.4A－2009 低溫試驗(yàn)方法
GB2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Nb：規(guī)定溫度變化速率的溫度變化
GBT 2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.3-2008(IEC68-2-3) 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
GJB150.9A-2009 濕熱試驗(yàn)方法
G/BT 2423.4-2008/IEC6008-2-30:2005試驗(yàn)Db:交變濕熱方法
GB/T5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GBT 2424.6-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度 濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
GBT 2424.7-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)溫度試驗(yàn)箱的測量